霍爾效應是電磁學領域的基礎現象，由美國物理學家埃德溫·霍爾于1879年在約翰霍普金斯大學首次發現。當電流垂直通過處于磁場中的導體或半導體時，載流子（電子或空穴）受洛倫茲力作用發生偏轉，導致電荷在材料兩側積聚，形成垂直于電流和磁場方向的電勢差，即霍爾電壓。這一效應不僅揭示了電流由帶電粒子組成的本質（比電子發現早18年），還為后續電子理論奠定了實驗基礎。最初在金屬中觀測到的霍爾電壓較弱，直至半導體技術發展后，因載流子濃度低而顯著增強，才推動其從實驗室現象走向工程應用

霍爾效應的核心價值在于其可量化特性：霍爾電壓 VH =nqdBI （B為磁感應強度，n為載流子濃度），半導體中顯著的霍爾效應使其成為材料分析的關鍵工具，例如通過霍爾系數可判斷載流子類型（N型半導體為電子，P型為空穴）及濃度。20世紀后，該效應衍生出多類量子化形態：

量子霍爾效應 （1980年）：在極低溫與強磁場下，霍爾電阻呈現階梯狀量子化平臺，催生了電阻的國際標準；

量子反常霍爾效應 （2013年）：中國科學家薛其坤團隊首次在零磁場條件下實現量子化霍爾電阻，為低能耗電子器件開辟新路徑34。這些突破印證了霍爾效應從經典電磁學向拓撲量子物理的跨越

基于霍爾效應的傳感器已成為工業檢測的核心部件。以電流探頭為例：其內部集成霍爾元件，通過非接觸式卡扣導線，將導體周圍的磁場變化轉換為霍爾電壓，再經信號調理電路輸出比例電流值，使示波器直接顯示單位為A/mA的波形。此類探頭具備 70MHz以上帶寬 和 10000 r/min測量范圍 ，且無需切斷電路。更關鍵的是，結合示波器的數學運算功能，霍爾探頭可同步捕獲電流與電壓信號，通過瞬時功率計算（P=U×I）精準分析開關電源損耗或電機效率，成為新能源電控、半導體器件測試中不可替代的診斷工具。